同惠LCR表TH2816B的测量原理-安泰测试

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原标题：同惠LCR表TH2816B的测量原理-安泰测试

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当LCR测试仪在100Hz和1KHz频率上，能同时提供串联和并联等效元件值时建议：一定型号和数值的元件应采用一定的方式进行测量。这样做是为了获得既最适合于元件的结构形式，又最适合于元件常用的工作方式的测量。如大容量的电解电容器，常作为电源波滤元件，测量时会发现，1KHZ频率上的电容值明显低于100Hz频率上的电容值。这种现象是由于这类元件的几何结构有关诸因素所构成。因此，电解电容在100Hz频率上测量的电容值是zui有用的，电解电容的损耗项通常在串联等效电阻(ESR)上显示，因此，应该测量其串联电容和串联电阻值。

LCR测试仪的测量条件参考表

表 测量条件参考

元件名称 测量频率 串--并联

0 o3 c7 ?- ~% c- D) V

电容<1μF 1KHz 并联

! t5 b3 p* W, }9 C3 d$ r q! z

电容≥1μF(非电解电容) 100Hz 并联

3 N# R8 z+ q6 U* G) A9 ~) X; f

电容≥1μF(电解电容) 100Hz 串联(SER)

# W& V# w4 @; x" {* u* V$ d$ h

电感<1H 1KHz 串联(SER)

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电感≥1H 100Hz 串联(SHR)

( I9 p& h" V$ C& I; z' R

电阻<10KΩ 100Hz 串联(SHR)

电阻≥10KΩ 100Hz 并联

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LCR表TH2816B测试仪的测试原理

数字LCR测试仪的测量对象为阻抗元件的参数，包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q，电容C及其损耗因数D。因此，又常称数字LCR测试仪为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02%，一般均在0.1%左右。

数字LCR测试仪原理如图所示。图中DUT为被测件，其阻抗用Zx表示，Rr为标准电阻器。切换开关可分别测出两者的电压Ux与Ur，于是有下式：

平衡式LCR测试仪测试原理

Zx = Ux/Ix = Rr * Ux/Ur

- C6 Q v9 {2 I3 Q/ C y

此式为一相量关系式。如使用相敏检波器(PSD)分别测出Ux和Ur对应于某一参考相量的同相量分量和正交分量，然后经模数转换(A/D)器将其转化为数字量，再由计算机进行复数运算，即可得到组成被测阻抗Zx的电阻值与电抗值。

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从图中的线路及工作原理可见，数字LCR测试仪只是继承了LCR测试仪传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流LCR测试仪的组成形式，而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测量阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。

数字LCR测试仪可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递，以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字LCR测试仪带有标准接口，可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档;也可直接连接到自动测试系统，用于元件生产线上对产品自动检验，以实现生产过程的质量控制。80年代中期，通用的误差低于0.1%的数字LCR测试仪有几十种。数字LCR测试仪正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。

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