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这个问题要解释起来就长篇大论了，因为辐射仪从原理上可以分好多种，各有特点。
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我在此简单介绍一下，从探测器来分类有气体电离探测器（盖革计数管、正比计数管、电离室）闪烁探测器（NaI、LaCeBr、BGO、Li玻璃等）半导体探测器（Si-PIN、SDD、HPGe、CZT等）
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首先，最常用的探测器当然是盖革计数管，这是一种通过射线电离管内气体引发雪崩放电对高能粒子进行计数的装置，只能对射线进行计数而不区分能量，所以对剂量率测量的精度不佳。而盖革管对带电粒子探测效率良好，对X射线、γ射线的探测效率较差。这种探测器因其体积小价格便宜常用于个人剂量仪。
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正比计数管在计数的同时考虑到了粒子的能量，输出脉冲幅度与能量成正比，因此对剂量率的测定更加精确。这种探测器被用于XRF测量或中子能谱测量。
8 d& `3 N* p2 J' K J( d! s2 d; `: ` 而电离室则是一种积分型的探测装置，电离室内气体被射线电离产生离子，在电离室偏压下形成离子电流，离子电流与射线的空气吸收剂量率相关。电离室分为常压电离室与加压电离室。当然不论哪种它们的精度都是极高的，误差不大于10%。这类仪器一般作为防护级巡检仪使用，然而常压电离室测量下限不够理想，无法测定本底辐射，加压电离室灵敏度要优于常压电离室，可用于本底测量，但加厚的室壁降低了对低能射线的响应。
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闪烁探测器也是一种常用的射线探测装置，射线进入闪烁晶体激发出光子，光子被光电倍增管接收形成脉冲信号，脉冲幅度与射线能量相关。这种探测器非常灵敏，被广泛用于环境级巡检仪以及能谱仪、核素识别仪的主探测器。
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半导体探测器可以看作是固体电离室，其工作原理与气体电离室相似，能量分辨率要显著优于闪烁体以及正比计数管，因此被广泛用于高分辨率能谱系统。
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