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原标题:椭偏仪的工作原理是什么?在工业中有哪些应用?
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, z* t c' o) @7 K% m4 X 椭偏仪有着测量精度高、快速多次测量且长期可靠性的优点,常常被用来检测化学材料微观结构、超薄膜厚度等实验。科研人员发现椭偏仪可以和很多技术并用,比如:原子力显微镜、拉曼光谱仪等。这使椭偏仪被广泛地运用在研究材料、生物以及医药制造等领域中。 ( ^& A+ c. L1 w7 Z. E" B5 m
椭偏仪
. ^- q6 o6 `$ N/ B% w! ?( b* M 椭偏仪的工作原理: 0 i( K) s( y) {& Y
入射光束(线偏振光)的电场可以在两个垂直平面上分解为矢量元。P平面包含入射光和出射光,s平面则是与这个平面垂直。类似的,反射光或透射光是典型的椭圆偏振光,因此仪器被称为椭偏仪。在物理学上,偏振态的变化可以用复数ρ来表示:其中,ψ和∆分别描述反射光p波与s波振幅衰减比和相位差。P平面和s平面上的Fresnel反射系数分别用复函数rp和rs来表示。rp和rs的数学表达式可以用Maxwell方程在不同材料边界上的电磁辐射推到得到。
7 x6 T$ }$ s+ t- ` 其中ϕ0是入射角,ϕ1是折射角。入射角为入射光束和待研究表面法线的夹角。通常椭偏仪的入射角范围是45°到90°。这样在探测材料属性时可以提供最佳的灵敏度。每层介质的折射率可以用下面的复函数表示。
' n e, G9 _) c( P' U' i 通常n称为折射率,k称为消光系数。这两个系数用来描述入射光如何与材料相互作用。它们被称为光学常数。实际上,尽管这个值是随着波长、温度等参数变化而变化的。当待测样品周围介质是空气或真空的时候,N0的值通常取1.000。 5 V3 H/ x; `& P" q
通常椭偏仪测量作为波长和入射角函数的ρ的值(经常以ψ和∆或相关的量表示)。一次测量完成以后,所得的数据用来分析得到光学常数,膜层厚度,以及其他感兴趣的参数值。
6 q" q$ _* B8 [" h" J+ |, a& Z 椭偏仪在各工业的应用: - X9 R1 D( {$ M& d4 G9 T
1、可用于实验室研究,教学,在线制程监控,工业品质控制等应用。 9 A" k! [; r1 m8 W" g
2、半导体行业:硅的氧化物和氮化物,高和低k介质、多晶和非晶硅薄膜,光刻胶。 ; Q# f' ^# M2 c& e$ m" o: u0 y
3、光学涂覆工业:高、低折射率薄膜如SiO2,TiO2,Ta2O5,MgF2,等。 2 q& {, ?2 A+ V( p W. G( ?
4、显示行业:导电层(如ITO),非晶硅薄膜、有机薄膜(OLED技术)。 % y. q X( h7 b+ P' h( `
5、数据存储产业:类金刚石薄膜。
$ p' A1 q: V/ ~; D t/ \ 6、R&D 工序:薄膜沉积的原位表征(速率和光学常数)对应工艺条件的变化值,适用于MBE、MOCVD、ALD、溅射等。 ' K+ C7 l/ \- I% L# W
7、化学和生物:亚-单层材料吸附液体中的细胞实验检测。
! B8 o! f# k6 U6 \ t9 N9 m0 k, o 8、工业:在线监测和控制薄膜的厚度。
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