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原标题:椭偏仪的工作原理是什么?在工业中有哪些应用?
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5 }5 P% ^9 Z7 F0 U# @0 m 椭偏仪有着测量精度高、快速多次测量且长期可靠性的优点,常常被用来检测化学材料微观结构、超薄膜厚度等实验。科研人员发现椭偏仪可以和很多技术并用,比如:原子力显微镜、拉曼光谱仪等。这使椭偏仪被广泛地运用在研究材料、生物以及医药制造等领域中。 " T/ M# S4 O( c- l
椭偏仪 7 E Y) K7 p& W( M+ e
椭偏仪的工作原理:
% a/ v# M, Q Z9 J1 P6 X 入射光束(线偏振光)的电场可以在两个垂直平面上分解为矢量元。P平面包含入射光和出射光,s平面则是与这个平面垂直。类似的,反射光或透射光是典型的椭圆偏振光,因此仪器被称为椭偏仪。在物理学上,偏振态的变化可以用复数ρ来表示:其中,ψ和∆分别描述反射光p波与s波振幅衰减比和相位差。P平面和s平面上的Fresnel反射系数分别用复函数rp和rs来表示。rp和rs的数学表达式可以用Maxwell方程在不同材料边界上的电磁辐射推到得到。 " N! p1 g* C: p+ D7 H9 Q, b3 k
其中ϕ0是入射角,ϕ1是折射角。入射角为入射光束和待研究表面法线的夹角。通常椭偏仪的入射角范围是45°到90°。这样在探测材料属性时可以提供最佳的灵敏度。每层介质的折射率可以用下面的复函数表示。
W8 Q: f# V4 I! O- v! y: \2 P+ A 通常n称为折射率,k称为消光系数。这两个系数用来描述入射光如何与材料相互作用。它们被称为光学常数。实际上,尽管这个值是随着波长、温度等参数变化而变化的。当待测样品周围介质是空气或真空的时候,N0的值通常取1.000。 3 l; s; n, |3 }4 d1 M
通常椭偏仪测量作为波长和入射角函数的ρ的值(经常以ψ和∆或相关的量表示)。一次测量完成以后,所得的数据用来分析得到光学常数,膜层厚度,以及其他感兴趣的参数值。 ; I; E/ J4 `5 \! b
椭偏仪在各工业的应用:
0 e- m7 c8 f% J4 }$ f- n3 P9 V 1、可用于实验室研究,教学,在线制程监控,工业品质控制等应用。 5 I0 i$ F9 i) y+ y
2、半导体行业:硅的氧化物和氮化物,高和低k介质、多晶和非晶硅薄膜,光刻胶。
- L& T$ A1 Y! o* c9 R' w& }- E" l 3、光学涂覆工业:高、低折射率薄膜如SiO2,TiO2,Ta2O5,MgF2,等。 / Z5 E8 T' _% X: w- G% f
4、显示行业:导电层(如ITO),非晶硅薄膜、有机薄膜(OLED技术)。
5 M5 u4 E, _4 Q% X! M 5、数据存储产业:类金刚石薄膜。
2 C! A4 g% _, d4 D3 v \! ] 6、R&D 工序:薄膜沉积的原位表征(速率和光学常数)对应工艺条件的变化值,适用于MBE、MOCVD、ALD、溅射等。 6 P5 S, R g* ]0 Y
7、化学和生物:亚-单层材料吸附液体中的细胞实验检测。
* e. P. c" ~) H- A 8、工业:在线监测和控制薄膜的厚度。 * k: N! e2 _8 [$ d# Z
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