# z7 |+ J0 v5 R# f" D# X* \1 @
, S9 V/ ^1 f% t9 {" m( h$ K b4 p2 q3 I" W8 U$ \" n! ~
 & g4 X6 B' X G
本文内容来源于《测绘通报》2023年第4期,审图号:GS京(2023)0721号 利用光学跟踪与结构光扫描相结合的高精度测量方法3 w% m& o* d+ C# C, ?" p( \, m4 |
黄高爽1, 黄桂平2, 周杨1 1. 信息工程大学, 河南 郑州 450001;2. 华北水利水电大学, 河南 郑州 450046
1 d% h7 A2 n) J 基金项目:河南省自然科学基金(202300410536)
/ G( T, R- v3 j- c 关键词:光学跟踪, 结构光, 双目视觉, 镀膜反射面, 精度测试  引文格式:黄高爽, 黄桂平, 周杨. 利用光学跟踪与结构光扫描相结合的高精度测量方法[J]. 测绘通报, 2023(4): 135-139. DOI: 10.13474/j.cnki.11-2246.2023.0117.摘要3 ? h- z2 K$ E- K+ E4 ~
摘要 :结构光扫描测量是广泛应用于精密生产制造的方法之一,相对于常见测量方法具有较高的点密度、点位精度,以及非接触测量的优势。针对常规的结构光扫描测量存在的测量范围小、路点示教耗时烦琐等不足,本文提出了一种光学跟踪器与结构光扫描仪相结合的测量方法。利用光学跟踪器实时测量结构光扫描仪的空间姿态,将扫描点云实时转换至同一坐标系中,实现了大尺寸、高点密度、高精度实时测量。通过反射面型面的非接触测量试验对该方法的测量精度进行评价。试验结果表明,对于直径为3.1 m的大型反射面,扫描结果与数模的最佳拟合RMSE最小为0.067 mm,优于型面制造要求的0.15 mm精度,可满足高精度的工业生产制造精度要求。 作者简介作者简介:黄高爽(1997—),男,博士生,主要研究方向为精密工程测量、网络空间测绘。E-mail:huanggaoshuang123@163.com初审:纪银晓7 c( s* P4 I7 }6 u/ H* i
复审:宋启凡
2 I5 o+ {4 O1 T0 `1 i2 R 终审:金 君0 L3 P, b- }! o2 S2 j
资讯
) F6 O+ Z+ W; j0 i
( h c+ K$ Z9 L( k( v 6 }' t$ n% v1 {( R
0 N5 c+ ]/ W/ ]6 Q+ e0 T$ p6 V( n- v5 v, I* _% p! c' @
* i0 ?4 e0 h0 Z- [* h+ P
; O& m' A$ [' s+ |# |* o: v! W |